美國路陽 晶圓缺陷黃綠光表面檢查燈LUYOR-3325G

wafer晶圓顆粒缺陷檢查燈LUYOR-3325G系列是一款黃綠光表面檢查燈，檢測燈的原理利用適合的LED燈源，通過led發光，經過光學透鏡聚焦的光源，照在工件表面折射出光路，使得操作員肉眼可識別出工件表面的灰塵、刮痕、毛刺、凹凸、油墨等瑕疵點，取代傳統的照明設備和光學系統機臺，直接通過照明光線和肉眼，觀測出一般玻璃表面、部件表面的瑕疵，極大的節省了一般工廠的采購成本。 LUYOR-3325G檢查燈采用人眼最敏感580NM之間波長光，來做zui簡單與明確的判別，可檢查到1um以下的刮痕或微粒子，幾乎可檢測出所有塵埃，大大降低產品不良率。使用壽命為2萬小時以上。光源強度可達30萬LX，最小可以檢測1μ的表面臟污，比傳統的檢查燈，效用增強10倍.LUYOR-3325G可根據使用場景，使用便攜手持式或桌面式（安裝再臺式支架上）。

LUYOR-3325G為交流電源供電，可以手持式操作，也可以臺式操作。

LUYOR-3325GD為鋰電池供電，可以手持式操作，也可以臺式操作。

晶圓檢測：用于晶圓測試的黃綠光LED檢測燈,LUYOR-3325G專為晶圓質量保證和測試而設計的光學晶圓檢測設備。

使用美國路陽 晶圓缺陷黃綠光表面檢查燈進行晶圓檢測：

• 使用無紫外線輻射的黃綠光燈進行晶圓檢測

• 更換用于晶圓檢測的紫外燈

• 在不使用汞蒸氣燈的情況下測試晶圓

• 設計為濾波綠光燈或濾光黃光燈，用于晶圓檢測

• 使用無紫外線和無汞的SECU-CHEK晶圓測試燈進行晶圓表面檢測

為什么使用LUYOR-3325G半導體檢測燈進行晶圓表面檢測？

• 晶圓生產所需的高工藝可靠性

• 需要經濟高效且無gu障的測試操作

• 晶圓測試對于晶圓制備和芯片生產的進一步成本密集型步驟至關重要

• 根據行業標準要求的專業解決方案

晶圓生產中存在哪些誤差，LUYOR-3325G半導體檢測燈的識別能力如何？

• 使用過濾后的黃光燈可以很好地檢測到晶圓的缺陷

• 通過晶圓測試檢測夾雜物

• 通過目視晶圓測試檢測污染物

• 用黃綠光觀察生長障礙

• 在光學晶圓測試期間識別面紗

• 使用LUYOR晶圓檢測燈分析條紋

• 與用于晶圓測試的紫外燈和汞燈相比，可以更好地檢測微觀結構

• 通過晶圓檢測檢測生長孔

• 檢查黃綠色燈的高對比度邊緣變平

• 在光學晶圓檢測中可以發現邊緣干擾

• 使用晶圓上的質量檢測燈檢測結構變化

• 使用紫外黃光和綠光燈檢測晶圓生產中的夾雜物

• 用過濾后的黃光燈識別不均勻